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SIDSP®技術(shù)是由ElektroPhysik開發(fā)的。有了這項(xiàng)新技術(shù)，ElektroPhysik創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量的另一個(gè)新*。這是幾十年開發(fā)特殊傳感器和使用技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)的結(jié)果。 SIDSP代表“傳感器集成數(shù)字信號(hào)處理”，意味著特殊的微處理器（DSP）收集，過濾和處理傳感器頭中的測(cè)量值。
- 高于平均精度和重復(fù)精度
- 整個(gè)范圍內(nèi)的溫度補(bǔ)償
- 磨損保護(hù)，拋光傳感器磁極
- 高抗電磁干擾（EMC）
- 內(nèi)部特性曲線，zui多50個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)
- 自動(dòng)補(bǔ)償有色金屬情況下的導(dǎo)電值
- 用于各種測(cè)量工作的通用傳感器。
以數(shù)字形式發(fā)送的通信接口。 數(shù)字信號(hào)處理確保以防止信號(hào)噪聲（任何測(cè)量過程中發(fā)生的），以便獲得無干擾的測(cè)量信號(hào)。因此，讀數(shù)的變化是非常小的（模擬程序無法實(shí)現(xiàn)），是非常準(zhǔn)確的讀數(shù)。可以得到的結(jié)果，通過使用測(cè)量臺(tái)。確保測(cè)量臺(tái)讀數(shù)是在*相同的位置。如果讀數(shù)總是在同一地點(diǎn)，幾乎任何變化都可以被排除在外。在相同的測(cè)量點(diǎn)，一組10個(gè)讀數(shù)，結(jié)果幾乎是相同。
SIDSP®技術(shù)，傳感器集成數(shù)字信號(hào)處理，利用這項(xiàng)新技術(shù)，ElektroPhysik為創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量創(chuàng)造了新的基準(zhǔn)。高精度，的可重復(fù)性，高溫穩(wěn)定性以及出色的適應(yīng)性，這些是SIDSP®的主要特性。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)校準(zhǔn)程序，充分利用SIDSP®技術(shù)所提供的出色的基本傳感器特性。在制造過程中的的精度使得每個(gè)單獨(dú)的傳感器具有高度相同的特性。重復(fù)性讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾zui常見的是誤差的根源，保護(hù)測(cè)量系統(tǒng)和傳感器電纜免受這種干擾至關(guān)重要。與傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器為傳感器內(nèi)部的傳感器頭創(chuàng)建和控制激勵(lì)信號(hào)。返回信號(hào)被直接數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理以提供厚度值。該值通過傳感器電纜以數(shù)字方式傳輸?shù)斤@示單元。換句話說：在模擬測(cè)量系統(tǒng)的情況下，在信號(hào)傳輸期間不再有干擾。即使您的應(yīng)用需要非常長(zhǎng)的電纜 - 沒有問題 - 增加的抗干擾能力仍然存在長(zhǎng)電纜延伸。
ElektroPhysik的SIDSP®傳感器實(shí)現(xiàn)了迄今為止的再現(xiàn)性。將傳感器放置在同一測(cè)量點(diǎn)上幾次，您將獲得*相同的結(jié)果 - SIDSP®傳感器的高性能的另一個(gè)證明。
采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。
SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
涂層測(cè)厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性。任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒問題，加長(zhǎng)SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的性能。
高度的SIDSP探頭特征曲線在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分，將測(cè)量錯(cuò)誤降至zui低。
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