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X-Ray菲希爾X熒光射線金屬涂鍍層測(cè)厚儀X-Ray菲希爾X熒光射線金屬涂鍍層測(cè)厚儀 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速測(cè)定鍍層厚度時(shí)，XUL® 系列測(cè)量?jī)x器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量，能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
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PCB面銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-SPCB面銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S 德國(guó)菲希爾SR-SCOPERMP30-S銅箔測(cè)厚儀用于測(cè)量線路板電路板上銅層厚度的手持式銅箔測(cè)厚儀，SR-SCOPERMP30-S銅箔測(cè)厚儀無(wú)損、快速、并且不會(huì)受到背面銅層的影響。
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IsoScope FMP10漆膜測(cè)厚儀菲希爾舊款IsoScope FMP10漆膜測(cè)厚儀菲希爾舊款 IsoScope FMP10膜厚儀用于測(cè)量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層，鋁上的陽(yáng)極氧化膜和非導(dǎo)電基材上的導(dǎo)電涂層。
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SigmaScope SMP30銅鋁電導(dǎo)率測(cè)量?jī)xSigmaScope SMP30銅鋁電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x 適用于測(cè)定非鐵磁性金屬（如鋁或銅）的電導(dǎo)率。通過(guò)測(cè)得的電導(dǎo)率能夠進(jìn)一步得出與熱處理材料的硬度與強(qiáng)度相關(guān)的結(jié)論。從而建立熱損傷與材料疲勞的證據(jù)。為此儀器使用了相敏渦流法。該方法經(jīng)認(rèn)證可用于符合標(biāo)準(zhǔn) DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 的電導(dǎo)率測(cè)量。
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Fischer現(xiàn)貨供應(yīng)DualScope MP0測(cè)厚儀Fischer現(xiàn)貨供應(yīng)DualScope MP0測(cè)厚儀 緊湊，便攜式，耐用：FISCHER推出的MP0和MP0R系列無(wú)損測(cè)厚儀可以快速，準(zhǔn)確地測(cè)量涂層的厚度，以滿足客戶的需求對(duì)FISCHER的一致精度水平的期望。
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DeltaScope FMP10磁性測(cè)厚儀菲希爾現(xiàn)貨DeltaScope FMP10磁性測(cè)厚儀菲希爾現(xiàn)貨 德國(guó)菲希爾DELTASCOPE FMP10涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法，適用于測(cè)量： 非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鋼和鐵上 油漆，臘克和合成涂層在鋼和鐵上
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X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝 方法的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單，速度快，可以進(jìn)行原位測(cè)量，在現(xiàn)場(chǎng)獲得目標(biāo)元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測(cè)井和海底X射線熒光測(cè)量，也得到了很大的發(fā)展
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